多功能老化线
led老化线老化工艺流程
ಌA段方法区——B段低电压测试英文仪通电区(85V)——C段卧式储罐氧化(220V)——D段髙压氧化(280V)——E段更改氧化(85-300V)——F段震荡氧化(50-300V)——G段低电压测试英文仪(85V)——A段方法区。
led脱落线的关键
🗹led的腐蚀线的内在都是跟据led灯饰的作业的基本原理来应为人为的变动led灯饰的作业输出功率、作业的大环境等,得以以达到了检侧led灯饰在不相同输出功率、不相同的大环境现状下可否正常人作业,并进行巨大反差的输出功率来震荡的腐蚀和模拟系统事实旋转电源开关的电磁的腐蚀来以达到了旋转电源开关使用期測試。